Questão número 530408
Engenharia Eletrônica - Eletrônica Digital - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB (CESPE) - 2004
No que se refere ao teste de circuitos integrados, julgue os itens subseqüentes.
Com relação à testabilidade, os módulos multi-chip (MCM) podem ser testados após o encapsulamento, o que permite reduzir o custo do teste.
- C. Certo
- E. Errado
O Provas e Concursos é um banco de dados de questões de concursos públicos organizadas por matéria, assunto, ano, banca organizadora, etc
