Questão número 531634

Informação estrutural é muito importante tanto para o desenvolvimento de novos dispositivos, quanto para controle de processos em microfabricação. Tendo em vista o uso de raios X em microeletrônica aponte qual afirmativa NÃO é verdadeira dentre as seguintes alternativas:

• A. Através de difração de raios X é possível medir a tensão mecânica nas camadas de um dispositivo.
• B. O difratograma de raios X é usado para identificar quimicamente os elementos presentes nos filmes depositados.
• C. As espessuras de camadas epitaxiais em semicondutores avançados podem ser obtidas do seu difratograma de raios X
• D. Os tamanhos dos grãos das trilhas metálicas dos circuitos integrados podem ser medidos por difração de raios X.
• E. Através de difração de raios X o cristal de silício é orientado para o processo de fatiamento em wafers e identificação.