Questão número 531642

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese afirmar, EXCETO:

• A. O canhão de íons usualmente é de Ga⁺, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.
• B. Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.
• C. Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga⁺, a amostra é atacada.
• D. Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no interior do CI.
• E. A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.