Questão número 565686

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa que descreve o princípio dessa técnica de análise.

  • A. O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou substância.
  • B. Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica.
  • C. Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.
  • D. Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico.
  • E. Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma elipse.
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