Questão número 565685

Considere as afirmativas abaixo: I – formação de imagem a partir de elétrons secundários e retro-espalhados decorrentes da interação de um feixe de elétrons com uma amostra. II – análise dos raios-X resultantes da relaxação dos átomos excitados pela interação entre o feixe primário de elétrons e a amostra. III – análise dos raios-X secundários característicos originados da incidência de um feixe de raios-X primário sobre uma amostra segundo um ângulo inferior ao ângulo crítico. IV – análise da energia cinética e da quantidade de elétrons oriundos de uma amostra submetida a um feixe de raios-X incidente. Assinale a alternativa que relaciona corretamente as afirmativas acima com as técnicas de análise a que se referem.

• A. I – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• B. I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; III- Fluorescência de raios-X por reflexão total; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• C. I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Microscopia eletrônica de varredura; IV – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia.
• D. I – Fluorescência de raios-X por reflexão total; II – Microscopia eletrônica de varredura; III – Espectroscopia de raios-X por dispersão de energia; IV – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X.
• E. I – Microscopia eletrônica de varredura; II – Espectroscopia de fotoelétrons por raios-X; III – Espectroscopia de raios- X por dispersão de energia; IV- Fluorescência de raios-X por reflexão total.