Questões de Física do ano 2012

Ao colocar dois corpos constituídos de substâncias diferentes e neutros em contato próximo, um deles irá ceder elétrons e o outro irá receber. Sendo assim, assinale a alternativa que apresenta o nome atribuído a esse processo de eletrização.

• A.

  Eletrização por atrito.

• B.

  Eletrização por contato.

• C.

  Eletrização por indução.

• D.

  Eletrização básica.

Leia o trecho abaixo para responder às questões 38 e 39.

“Basicamente, eletrizar um corpo significa tornar diferente o número de elétrons e prótons.”

Pode-se definir a carga elétrica de um corpo pela reação Q= n.e , onde Q é

• A.

  carga elétrica, medida em Coulomb.

• B.

  cargas elementares.

• C.

  quantidade de cargas elementares.

• D.

  perda de carga.

Leia o trecho abaixo para responder às questões 38 e 39.

“Basicamente, eletrizar um corpo significa tornar diferente o número de elétrons e prótons.”

Um corpo eletrizado positivamente teria

• A.

  apenas número de prótons.

• B.

  um número de prótons maior que o de elétrons.

• C.

  um número maior de elétrons do que de prótons.

• D.

  número igual de elétrons e prótons.

Quando o feixe de elétrons incide sobre uma amostra, os elétrons dos átomos são excitados, mudando de níveis energéticos. Ao retornarem para sua posição inicial, liberam a energia adquirida na forma de ondas com comprimento de onda no espectro de raios-X. Um detector instalado na câmara de vácuo do Microscópio Eletrônico de Varredura mede a energia associada a esse fóton. Como a energia emitida no decaimento dos elétrons é característica para cada elemento químico, é possível, no ponto de incidência do feixe, determinar quais os elementos químicos presentes naquela área. A técnica descrita acima corresponde a de

• A. difração de raio-X.
• B. espectroscopia de raio-X por dispersão de energia (EDS).
• C. espectroscopia de fotoelétrons com raio-X.
• D. litografia.
• E. elipsometria espectral.

Os microscópios eletrônicos têm seu funcionamento baseado na emissão de um feixe de elétrons sobre a amostra analisada. Com relação ao canhão de elétrons, é CORRETO afirmar que

• A. o feixe de elétrons pode ser obtido apenas por meio do aquecimento do material da fonte.
• B. as fontes termoiônicas devem ser aquecidas a temperaturas acima de sua temperatura de fusão.
• C. as fontes de emissão de campo podem emitir feixes de elétrons à temperatura ambiente.
• D. a densidade de corrente emitida aumenta indefinidamente com o aumento de temperatura.
• E. o feixe de elétrons emitidos por uma fonte termoiônica é dito monocromático.

No que se refere à microscopia de força atômica pode-se afirmar que

• A. só pode ser utilizada para análise de materiais condutores.
• B. a energia cedida para a emissão do feixe de elétrons é igual a do feixe.
• C. a energia do feixe de elétrons deve ser maior que a força de ligação interatômica.
• D. um microscópio de força atômica utiliza corrente de tunelamento para a formação das imagens.
• E. o microscópio de força atômica fornece um perfil de superfície tridimensional.

A espectroscopia de infravermelho por transformada de Fourier baseia-se na absorção de energia, na região do infravermelho do espectro eletromagnético, por uma amostra. Essa absorção de energia, com comprimento de onda na faixa do infravermelho,

• A. será maior quanto menor a distância percorrida pelo feixe incidente.
• B. ocorrerá quando o feixe incidente possuir energia suficiente para que ocorra uma transição eletrônica na amostra.
• C. ocorrerá apenas em soluções muito diluídas.
• D. será detectada quando ocasionar uma mudança no momento dipolar de uma molécula.
• E. independerá da frequência de vibração das ligações químicas das substâncias.

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que NÃO está relacionada a essa técnica.

• A. Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
• B. É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
• C. As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
• D. Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
• E. Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

Observe as afirmativas abaixo. I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons. II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons. III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo. IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X. As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa

• A. Sentenças I, II, III.
• B. Sentenças I e II.
• C. Sentenças III e IV.
• D. Sentenças I e III.
• E. Sentenças II e IV.

• A. 0,07 nm e 0,19 nm.
• B. 0,12 nm e 0,49 nm.
• C. 1,85 nm e 0,49 nm.
• D. 0,49 nm e 0,12 nm.
• E. 0,19 nm e 0,07 nm.